国家知识产权局信息显示,浙江芯科半导体有限公司申请一项名为“一种NiO作反型层的超结MOSFET及其制备方法”的专利,公开号CN121078764A,申请日期为2025年7月。专利摘要显示,本申请公开了一种NiO作反型层的超结MOSFET及其制备方法,超结MOSFET包括:衬底、第一材料层、第二材料层、第三材料层、栅电极、源电极及漏电极;第一材料层设置在衬底表面,第一材料层上具有第一孔;第二材料层设置在第一孔内,并与第一材料层和/或衬底接触,第二材料层上具有第二孔;第三材料层设置在第二孔内,第三材料层与第二材料层接触并与第一材料层不直接接触;第一材料层为n-SiC材料层,第二材料层为p-NiO材料层,第三材料层为N型材料层,第一材料层与第二材料层形成超结结构,第二材料层与第三材料层形成异质结。制备方法用于制备出NiO作反型层的超结MOSFET。本申请中将p-NiO材料层设置为反型层具有高导电性、低导通电阻、优异的界面特性等优势。
天眼查资料显示,浙江芯科半导体有限公司,成立于2021年,位于杭州市,是一家以从事非金属矿物制品业为主的企业。企业注册资本3472.8万人民币。通过天眼查大数据分析,浙江芯科半导体有限公司共对外投资了4家企业,参与招投标项目12次,财产线索方面有商标信息12条,专利信息173条,此外企业还拥有行政许可6个。
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