国家知识产权局信息显示,华虹半导体(无锡)有限公司申请一项名为“一种离子注入方法”的专利,公开号CN121357974A,申请日期为2025年9月。
专利摘要显示,本申请公开了一种离子注入方法,包括:提供一衬底,所述衬底包括PMOS区域和NMOS区域;在位于所述NMOS区域的衬底上形成光阻层,使得所述PMOS区域露出;以所述光阻层为掩膜,进行源漏区离子注入工艺,以在所述衬底中形成PMOS器件的源区和漏区;以所述光阻层为掩膜,对所述源区和漏区进行氟离子注入工艺。本申请通过上述方案,能够提高PNP电流增益。
天眼查资料显示,华虹半导体(无锡)有限公司,成立于2017年,位于无锡市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本253685.180069万美元。通过天眼查大数据分析,华虹半导体(无锡)有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目2944次,专利信息1969条,此外企业还拥有行政许可117个。
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