国家知识产权局信息显示,中科(深圳)无线半导体有限公司申请一项名为“一种氧化镓基二极管的外延结构性能检测方法”的专利,公开号CN121348027A,申请日期为2025年12月。
专利摘要显示,本发明公开了一种氧化镓基二极管的外延结构性能检测方法,涉及晶体管领域,解决了现有外延结构性能检测方法存在检测效果的问题,包括步骤S1:分别获取目标待检测二极管在每一个预设功率下发光效率数值,并据此绘制功率光效坐标图,根据功率光效坐标获取目标待检测二极管所对应的合格光效功率区间,步骤S2:分别获取目标待检测二极管在每一个特征功率下的显色指数值,并据此绘制显色指数坐标图,根据显色指数坐标获取目标待检测二极管所对应的合格显色功率区间,步骤S3:根据合格显色功率区间以及合格光效功率区间对样本氧化镓基二极管进行性能检测,并根据检测结果发布性能预警,本发明能够提高二极管性能检测结果的准确性。
天眼查资料显示,中科(深圳)无线半导体有限公司,成立于2018年,位于深圳市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析,中科(深圳)无线半导体有限公司共对外投资了3家企业,参与招投标项目1次,专利信息80条,此外企业还拥有行政许可7个。
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来源:市场资讯