国家知识产权局信息显示,华虹半导体(无锡)有限公司申请一项名为“半导体结构的形成方法”的专利,公开号CN121368109A,申请日期为2025年10月。
专利摘要显示,一种半导体结构的形成方法,包括:形成器件层,所述器件层包括若干存储单元;在所述器件层上形成介质层和位于介质层内的插塞结构,所述插塞结构与所述存储单元电连接;对所述半导体结构进行退火处理,所述退火处理包括第一处理过程和第二处理过程,所述第一处理过程具有第一温度范围和第一压强范围,所述第二处理过程具有第二温度范围和第二压强范围,所述第一温度范围小于所述第二温度范围,所述第一压强范围大于所述第二压强范围。所述方法减小了漏电流。
天眼查资料显示,华虹半导体(无锡)有限公司,成立于2017年,位于无锡市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本253685.180069万美元。通过天眼查大数据分析,华虹半导体(无锡)有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目2944次,专利信息1983条,此外企业还拥有行政许可117个。
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来源:市场资讯