惠存半导体申请一种FLASH芯片的测试系统及测试方法专利，提升FLASH芯片的测试的智能性
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2025-07-07 18:41:21
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金融界2025年7月7日消息，国家知识产权局信息显示，深圳市惠存半导体有限公司申请一项名为“一种FLASH芯片的测试系统及测试方法”的专利，公开号CN120256220A，申请日期为2025年03月。
专利摘要显示，本申请实施例公开了一种FLASH芯片的测试系统及测试方法，应用于电子设备，电子设备包括FLASH芯片；方法包括：获取FLASH芯片的第一测试环境参数；获取FLASH芯片的测试参数和参考测试结果参数；根据第一测试环境参数和测试参数对FLASH芯片进行多次测试，得到多个测试结果参数；根据多个测试结果参数确定第一测试结果参数；确定第一测试结果参数与参考测试结果参数之间的第一偏离度；在第一偏离度处于第一预设范围时，确定FLASH芯片测试合格。
天眼查资料显示，深圳市惠存半导体有限公司，成立于2018年，位于深圳市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市惠存半导体有限公司参与招投标项目3次，财产线索方面有商标信息8条，专利信息9条，此外企业还拥有行政许可8个。
来源：金融界
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