华虹计通申请基于工艺标签知识图谱的半导体专利分析方法专利，提高半导体专利分析的效率
创始人
2026-05-06 11:37:40
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国家知识产权局信息显示，上海华虹计通智能系统股份有限公司申请一项名为“基于工艺标签知识图谱的半导体专利分析方法和装置”的专利，公开号CN121981113A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本申请公开了一种基于工艺标签知识图谱的半导体专利分析方法和装置。方法包括：获取半导体工艺标签体系；基于半导体工艺标签体系构建输入大语言模型的结构化提示指令，用于约束大语言模型仅从半导体工艺标签体系中选择工艺标签；获取待解析的半导体专利文本进行文本处理操作确定半导体专利技术文本；将半导体专利技术文本与结构化提示指令输入大语言模型确定半导体专利文本的工艺标签；基于工艺标签和预设工艺标签数据结构，构建工艺标签知识图谱；根据半导体专利分析需求，对工艺标签知识图谱进行查询和/或统计分析，得到表征半导体工艺布局情况的分析结果。本申请具有提高半导体专利分析的效率的技术效果。
天眼查资料显示，上海华虹计通智能系统股份有限公司，成立于1997年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本16800万人民币。通过天眼查大数据分析，上海华虹计通智能系统股份有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目415次，财产线索方面有商标信息20条，专利信息132条，此外企业还拥有行政许可18个。
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来源：市场资讯
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