辰卓科技申请芯片测试流程异常处理方法专利，提升异常处理效率
创始人
2026-02-09 11:17:04
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国家知识产权局信息显示，深圳市辰卓科技股份有限公司申请一项名为“芯片测试流程的异常处理方法、装置及ATE测试设备”的专利，公开号CN121478568A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本申请适用于半导体测试技术领域，提供了一种芯片测试流程的异常处理方法、装置及ATE测试设备，所述方法包括：在所述芯片测试流程运行过程中检测到异常时，调用所述决策弹窗插件以触发异常处置；获取当前起测模式，基于所述当前起测模式，响应于对候选决策选项的触发操作确定决策指令，其中，所述触发操作包括本地触发和/或远程触发；根据所述决策指令在所述ATE测试软件中执行对应的恢复操作，以使所述芯片测试流程恢复运行。该方法能够在异常发生时快速触发处置并确定决策指令，提升异常处理效率，并通过执行相应恢复操作促进测试流程恢复运行，进而有利于保证芯片量产测试的连续性与稳定性。
天眼查资料显示，深圳市辰卓科技股份有限公司，成立于2013年，位于深圳市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本3327.9492万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市辰卓科技股份有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目4次，财产线索方面有商标信息19条，专利信息157条，此外企业还拥有行政许可10个。
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来源：市场资讯
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