金融界2025年7月25日消息,国家知识产权局信息显示,浙江创芯集成电路有限公司申请一项名为“半导体结构及其形成方法”的专利,公开号CN120379321A,申请日期为2025年04月。
专利摘要显示,本发明实施例提供一种半导体结构及其形成方法,所述形成方法,包括:提供基底,包括第一区、与所述第一区相连接的第二区;在所述第一区依次形成堆叠的第一源极层、第一沟道层和第一漏极层,以形成第一叠层;在所述第二区依次形成堆叠的第二源极层、第二沟道层和第二漏极层,以形成第二叠层;在所述第一叠层与第二叠层之间形成有间隔凹槽;形成环绕覆盖所述间隔凹槽侧壁和底部的栅介质层;形成环绕覆盖所述栅介质层且填充所述间隔凹槽内的栅结构层。采用本申请实施例半导体结构的形成方法,可以进一步提高半导体器件的开电流。
天眼查资料显示,浙江创芯集成电路有限公司,成立于2020年,位于杭州市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本182000万人民币。通过天眼查大数据分析,浙江创芯集成电路有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目250次,财产线索方面有商标信息14条,专利信息342条,此外企业还拥有行政许可6个。
来源:金融界