金融界2025年8月18日消息,国家知识产权局信息显示,华虹半导体(无锡)有限公司;上海华虹宏力半导体制造有限公司申请一项名为“一种BCD器件制造方法”的专利,公开号CN120500115A,申请日期为2025年04月。
专利摘要显示,本申请公开了一种BCD器件制造方法,包括:提供SOI晶圆,所述SOI晶圆由下至上依次包括衬底层、埋氧层和顶层硅;采用光刻和刻蚀工艺,在所述SOI晶圆中定义出TVS器件区域和主器件区域,位于所述TVS器件区域的所述顶层硅和埋氧层被去除、衬底层露出;进行后续工艺,以在所述TVS器件区域中形成TVS器件,并在所述主器件区域形成BCD器件。
来源:金融界