恩纳基智能装备申请基于图像区域差分的芯片表面瑕疵检测方法、设备及介质专利，实现高效且精准的完成芯片表面的瑕疵检测_电池技术

恩纳基智能装备申请基于图像区域差分的芯片表面瑕疵检测方法、设备及介质专利，实现高效且精准的完成芯片表面的瑕疵检测

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2025-11-28 12:09:29

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国家知识产权局信息显示，恩纳基智能装备（无锡）股份有限公司申请一项名为“基于图像区域差分的芯片表面瑕疵检测方法、设备及介质”的专利，公开号CN121027147A，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本申请公开了一种基于图像区域差分的芯片表面瑕疵检测方法、设备及介质，涉及芯片表面瑕疵检测技术领域，该方法包括：获取待检测芯片对应的待检测区域和预设的标准参考区域；判断待检测区域和标准参考区域的差异是否大于第一预设值；若是，将待检测区域以单个像素为单位分别在前后左右四个方向移动预设像素，将移动后的待检测区域确定为目标检测区域，基于目标检测区域和标准参考区域进行芯片表面瑕疵检测操作，否则，基于待检测区域和标准参考区域进行芯片表面瑕疵检测操作。本申请用以解决现有技术中当芯片做模板的区域存在干扰或者芯片本身一致性差时，出现的瑕疵准确率低的问题，实现高效且精准的完成芯片表面的瑕疵检测。

天眼查资料显示，恩纳基智能装备（无锡）股份有限公司，成立于2016年，位于无锡市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本4241.04万人民币。通过天眼查大数据分析，恩纳基智能装备（无锡）股份有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目9次，财产线索方面有商标信息53条，专利信息134条，此外企业还拥有行政许可15个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业差分投资检测芯片恩纳基图像表面瑕疵区域介质

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