国家知识产权局信息显示,意法半导体国际公司申请一项名为“测试模式重置控制电路”的专利,公开号CN121093871A,申请日期为2025年6月。
专利摘要显示,本公开的实施例涉及测试模式重置控制电路。一种扫描重置控制电路包括:单个扫描重置输入,其被配置为接收重置信号;多个扫描重置输出,其被配置为以一对一的比例被耦合到多个电路块;多个可写非扫描测试数据寄存器,其包括被配置为断言或解除断言重置信号的寄存器输出;以及多个重置使能电路,其以一对一的比例被耦合到多个扫描重置输出。扫描重置输出中的每个扫描重置输出均被配置为同时重置对应的电路块的扫描触发器集合。多个重置使能电路中的每个重置使能电路均包括输出、选择器输入以及输出,该输入被耦合到单个扫描重置输入,该选择器输入被耦合到寄存器输出,该输出被耦合到对应的扫描重置输出。
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