环光时代申请微环调制器光芯片测试系统专利，支持多芯片并行测试与闭环光耦合优化_电池技术

环光时代申请微环调制器光芯片测试系统专利，支持多芯片并行测试与闭环光耦合优化

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2026-01-20 09:39:59

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国家知识产权局信息显示，深圳环光时代技术有限公司申请一项名为“一种微环调制器光芯片的测试系统”的专利，公开号CN121348057A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明涉及一种微环调制器光芯片的测试系统，属于光芯片测试技术领域，该系统包括：测试子板、控制主板、光路耦合装置及输出装置；测试子板接收控制主板输出对光芯片进行测试的多模态测试信号；测试子板对待测光芯片的温度、相移器电流分别进行调整，以及输出装置采集在光路耦合状态下输出的光信号，将采集的光信号、该光信号所属的温度、相移器电流数据形成三维数据查找表进行输出；光路耦合装置用于将光芯片与测试光信号进行光路耦合，并监测耦合过程中光芯片环回波导的光功率变化，以调整耦合光路至最优耦合状态。本发明提高了测试效率，支持多芯片并行测试与闭环光耦合优化，达到了光芯片快速谐振波长和工作点锁定，和高效批量测试的效果。

天眼查资料显示，深圳环光时代技术有限公司，成立于2021年，位于深圳市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本555.5556万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳环光时代技术有限公司参与招投标项目3次，财产线索方面有商标信息1条，专利信息28条，此外企业还拥有行政许可8个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

进行闭环调制器测试芯片系统光路并行耦合专利子板微环

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