库利克和索夫工业申请检测半导体元件裂纹方法专利，检测在焊线系统上的半导体元件中是否有裂纹
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2026-02-05 15:14:26
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国家知识产权局信息显示，库利克和索夫工业公司申请一项名为“检测半导体元件中的裂纹的方法以及相关的焊线系统”的专利，公开号CN121464751A，申请日期为2024年7月。
专利摘要显示，一种焊线系统包括：焊头组件，所述焊头组件被配置为携载焊线工具，所述焊线工具用于相对于包含半导体元件的工件执行焊线操作；支撑结构，用于支撑所述工件；以及电脑系统，所述电脑系统被配置为：在所述焊线系统上提供所述半导体元件；以及检测在所述焊线系统上的所述半导体元件中是否有裂纹。
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来源：市场资讯
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