江苏晋成半导体申请一种探针性能测试方法专利，有效提升半导体探针性能检测的准确性、稳定性及抗干扰能力_电池技术

江苏晋成半导体申请一种探针性能测试方法专利，有效提升半导体探针性能检测的准确性、稳定性及抗干扰能力

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2026-02-27 13:11:25

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国家知识产权局信息显示，江苏晋成半导体有限公司申请一项名为“一种探针性能测试方法”的专利，公开号CN121578216A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明涉及半导体探针性能测试技术领域，尤其是涉及一种探针性能测试方法，包括：通过接触模拟测试与信号传输模拟测试，计算探针干扰工况的电阻一致性及信号传输保真比，进行单探针模拟验证；对合格单探针组成的双探针，计算接触压力干扰量、电磁串扰干扰量并开展协同干扰判决；随后提取历史探针假性数据，构建干扰假性风险模型与非干扰假性风险模型；将双探针按干扰程度分组，代入对应模型计算风险评估值；对高风险组，确定调整方向和调整方案，调整后计算双探针平均衰减率；衰减率验证达标后，确定为合格性能测试探针组，有效提升半导体探针性能检测的准确性、稳定性及抗干扰能力。

天眼查资料显示，江苏晋成半导体有限公司，成立于2024年，位于无锡市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本4777.9629万人民币。通过天眼查大数据分析，江苏晋成半导体有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目3次，专利信息15条，此外企业还拥有行政许可4个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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