国家知识产权局信息显示,桂林电子科技大学;桂林研创半导体科技有限责任公司;南宁桂电电子科技研究院有限公司申请一项名为“传感器和测量设备”的专利,公开号CN121577966A,申请日期为2025年12月。
专利摘要显示,本发明提供了一种传感器和测量设备,其中,传感器包括基体、第一电极检测片和第二电极检测片;第一电极检测片设置于基体;第二电极检测片设置于基体,第二电极检测片与第一电极检测片间隔设置,第二电极检测片与第一电极检测片之间具有测量空间,第一电极检测片和第二电极检测片用于测量放置于测量空间内的待测量介质的阻抗信息。本发明通过第一电极检测片与第二电极检测片构成的测量空间,可实现对三维介质的特性进行准确的测量,结构简单。传感器适用于平面、曲面及不规则形态在内的各类介质监测场景,适应性广泛。
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来源:市场资讯