乾益电子申请集成电路测试信息整合分析系统及方法专利，实现集成电路中漏电物理区域的精确标识
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2025-12-04 20:37:19
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国家知识产权局信息显示，深圳市乾益电子科技有限公司申请一项名为“集成电路测试信息整合分析系统及方法”的专利，公开号CN 121049697 A，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，本发明涉及电路测试数据处理技术领域，尤其涉及一种集成电路测试信息整合分析系统及方法。所述方法包括以下步骤：构建集成电路激励测试策略；通过集成电路激励测试策略对标准集成电路分析漏电流随温度、栅压和漏压变化的梯度值，得到标准电路响应梯度特征数据；通过集成电路激励测试策略对待测集成电路执行激励测试，并判定待测集成电路的缺陷时间常数类型；基于标准电路响应梯度特征数据以及缺陷时间常数类型重构漏电路径电势起伏图谱；根据漏电路径电势起伏图谱进行亚稳态故障点处理，而后根据电路漏电主导成分数据进行信息整合。本发明实现集成电路中漏电物理区域的精确标识和故障亚稳态处理，完成测试信息的整合分析与反馈。
天眼查资料显示，深圳市乾益电子科技有限公司，成立于2011年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本200万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市乾益电子科技有限公司专利信息37条，此外企业还拥有行政许可13个。
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来源：市场资讯
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