国家知识产权局信息显示,锐石创芯(深圳)半导体有限公司申请一项名为“射频芯片的测试方法、测试装置、设备、系统及存储介质”的专利,公开号CN121049703A,申请日期为2025年9月。
专利摘要显示,本申请提供一种射频芯片的测试方法、测试装置、设备、系统及存储介质,该方法包括:获取不同类型的射频芯片对应的多个测试规则表,并从多个测试规则表中确定待测试射频芯片对应的待测试规则表,该待测试规则表包括待测试射频芯片对应的多个待测试项目,每个待测试项目包括至少一个寄存器编号;基于待测试规则表中的多个待测试项目对应的的寄存器编号,依次生成多个测试指令,并通过接口模块将每个测试指令转换为对应的第一数字信号并发送至待测试射频芯片的数字模块;接收接口模块返回的每个第一数字信号对应的第二数字信号,并对每个第二数字信号进行解析以生成每一待测试项目的测试结果。本申请能够提高射频芯片的测试效率。
天眼查资料显示,锐石创芯(深圳)半导体有限公司,成立于2024年,位于深圳市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本3600万人民币。通过天眼查大数据分析,锐石创芯(深圳)半导体有限公司专利信息179条,此外企业还拥有行政许可2个。
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来源:市场资讯