国家知识产权局信息显示,深圳力迈电子有限公司申请一项名为“面向半导体封装的缺陷实时检测与智能诊断系统”的专利,公开号CN121075940A,申请日期为2025年8月。
专利摘要显示,本发明属于半导体制造的技术领域,涉及了面向半导体封装的缺陷实时检测与智能诊断系统,包括:光学基础检测模块,执行光学基础检测生成光学检测结果包;热像联动检测模块,接收光学检测结果包,执行热像联动检测生成热力学特征包;振动信号采集模块,执行振动信号采集生成振动特征包;诊断反馈控制模块,用于接收振动特征包,执行诊断反馈控制生成实时诊断指令,生成曝光补偿值;若形态风险等级超过预设的风险阈值,且存在过热点位置或振动能量值超过预设的稳定阈值,则判定结果为真实缺陷;根据判定结果生成生产线指令;封装生产线指令和曝光补偿值形成实时诊断指令。本发明解决了仅凭形态异常判定缺陷容易造成大量误报的问题。
天眼查资料显示,深圳力迈电子有限公司,成立于2007年,位于深圳市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析,深圳力迈电子有限公司共对外投资了1家企业,专利信息19条,此外企业还拥有行政许可9个。
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来源:市场资讯