国家知识产权局信息显示,贵州辰矽电子科技有限公司申请一项名为“一种集成温度传感器的沟槽MOSFET及测试方法”的专利,公开号CN121419301A,申请日期为2025年11月。
专利摘要显示,本发明涉及半导体技术领域,具体而言,涉及一种集成温度传感器的沟槽MOSFET及测试方法,主要包括了从下至上依次设置的金属层、掺杂衬底层和掺杂外延层,掺杂外延层的上部左侧设置有掺杂埋层、多晶硅栅层和第一二氧化硅层,掺杂外延层的上部中间设置有掺杂井区层、第一掺杂源区层、第二掺杂源区层和源极金属层,掺杂外延层的上部右侧设置有电学隔离层、第二二氧化硅层、第一掺杂多晶硅层和第二掺杂多晶硅层。在本发明中,通过电学隔离层和第二二氧化硅层的介质隔离,温度传感器不会受到主器件的串扰,保障传感器精度。
天眼查资料显示,贵州辰矽电子科技有限公司,成立于2012年,位于贵阳市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析,贵州辰矽电子科技有限公司共对外投资了2家企业,参与招投标项目5次,财产线索方面有商标信息4条,专利信息16条,此外企业还拥有行政许可3个。
声明:市场有风险,投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成,仅供参考,不构成个人投资建议。
来源:市场资讯