辰卓科技申请芯片自动测试方法专利，解决待测芯片IBI请求无法及时处理问题
创始人
2026-03-02 15:43:39
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国家知识产权局信息显示，深圳市辰卓科技股份有限公司申请一项名为“芯片自动测试方法、装置以及系统”的专利，公开号CN121578100A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本申请提供了一种芯片自动测试方法、装置及系统，涉及半导体测试技术领域。其中，该方法包括：控制所述IBI处理模块获取所述待测芯片发送的目标IBI请求；基于所述IBI处理模块中存储的IBI请求与响应数据之间的对应关系，在所述IBI处理模块中搜索与所述目标IBI请求的请求类型匹配的响应数据，得到目标响应数据；所述目标响应数据用于指示所述IBI处理模块执行至少一个动作；基于所述目标响应数据，控制所述IBI处理模块执行对应的动作，得到动作执行结果，以使得所述ATE测试设备根据所述动作执行结果确定所述待测芯片是否正常。本申请解决了相关技术中待测芯片的IBI请求无法得到及时处理的问题。
天眼查资料显示，深圳市辰卓科技股份有限公司，成立于2013年，位于深圳市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本3327.9492万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市辰卓科技股份有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目4次，财产线索方面有商标信息19条，专利信息171条，此外企业还拥有行政许可10个。
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来源：市场资讯
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