国家知识产权局信息显示,晶元光电股份有限公司申请一项名为“光感测装置”的专利,公开号CN121751821A,申请日期为2025年9月。
专利摘要显示,本发明公开一种光感测装置,其包括第一半导体层、位于第一半导体层上的吸收层、位于吸收层上的第二半导体层、位于第二半导体层上的滤光结构、形成于滤光结构中的开口,以及设置于滤光结构上的电极结构。电极结构通过开口连接于第二半导体层。滤光结构包括相互堆叠的多个第一层及多个第二层,并且多个第一层包括最上第一层。最上第一层具有第一折射率,并且多个第二层中的一层具有大于第一折射率的第二折射率。最上第一层位于电极结构与多个第二层之间且直接接触电极结构。
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