上海芯诣电子科技申请芯片老化测试设备专利，保证检测过程的安全
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2026-03-10 19:06:39
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国家知识产权局信息显示，上海芯诣电子科技有限公司申请一项名为“一种芯片老化测试设备”的专利，公开号CN121633798A，申请日期为2026年2月。
专利摘要显示，本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种芯片老化测试设备，包括检测箱，还包括热风测试组件，包括安装在检测箱顶部的热风件，每个检测台上均等距放置有多个芯片，载物架一侧设有用于调节风向的调节件；检测组件，用于检测芯片的通电状态，并在芯片故障时阻止其吸热，包括压在芯片上方的导热板，当芯片故障时，导热板弹起，芯片与检测台断开连接，芯片一侧设置有隔热件，导热板弹起时，隔热件阻挡热风与芯片接触。通过将芯片放置在载物架上，利用与其表面平行的热风来进行加热，使得各芯片加热的温度相差较小，另外在芯片上设置了检测组件，在芯片高温故障时及时撤去导热板，并利用隔热板将热源挡住，及时去除加热效果，保证检测过程的安全。
天眼查资料显示，上海芯诣电子科技有限公司，成立于2022年，位于上海市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海芯诣电子科技有限公司参与招投标项目4次，专利信息13条，此外企业还拥有行政许可2个。
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来源：市场资讯
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