汇萃智能申请基于量子点涂层CMOS传感器的多光谱检测方法专利，对材料残留、金属扩散、污染物等实现识别和定量分析_厂商动态

汇萃智能申请基于量子点涂层CMOS传感器的多光谱检测方法专利，对材料残留、金属扩散、污染物等实现识别和定量分析

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2026-01-21 13:38:37

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国家知识产权局信息显示，杭州汇萃智能科技有限公司申请一项名为“基于量子点涂层CMOS传感器的多光谱检测方法、系统及介质”的专利，公开号CN121353727A，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本申请提供了一种基于量子点涂层CMOS传感器的多光谱检测方法、系统及介质，该方法包括：采集多光谱原始图像，将多光谱原始图像进行光谱归一化处理，得到归一化处理图像；将归一化处理图像进行像素几何配准，得到配准图像；基于配准图像提取光谱特征，对光谱特征进行主成分与波段分析，基于分析结果对配准图像进行融合处理，得到融合图像；构建材料识别与污染分析模型，将融合图像输入材料识别与污染分析模型，输出检测结果，将检测结果实时传输至终端；本申请能够实现单次曝光获取紫外‑可见‑红外宽波段的反射与吸收图像信息，并通过图像融合算法获取材料的成分与形貌信息，对材料残留、金属扩散、污染物等实现识别和定量分析。

天眼查资料显示，杭州汇萃智能科技有限公司，成立于2012年，位于杭州市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本1591.8062万人民币。通过天眼查大数据分析，杭州汇萃智能科技有限公司共对外投资了14家企业，参与招投标项目223次，财产线索方面有商标信息30条，专利信息329条，此外企业还拥有行政许可3个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

光谱投资残留量子信息污染物图像涂层定量分析智能量子点专利

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