国家知识产权局信息显示,深圳市伟铭光电有限公司申请一项名为“一种半导体晶圆表面的芯片检测方法及系统”的专利,公开号CN121391857A,申请日期为2025年12月。
专利摘要显示,本发明涉及半导体检测技术领域,公开了一种半导体晶圆表面的芯片检测方法及系统。该方法包括采集晶圆表面高分辨率图像,经噪声滤波与对比度均衡化处理,分离缺陷候选区域集与参考背景区域;逐一提取待识别缺陷区域,访问缺陷知识图谱获取潜在缺陷种类;将潜在缺陷种类与参考背景区域多特征融合,通过上下文感知编码器生成缺陷语义特征向量,解析向量判定实际缺陷种类;处理全部候选区域后输出缺陷检测报告。该方法强化缺陷与背景的区分度,缩小缺陷判定范围,精准识别相似缺陷,减少漏检误检,提升检测效率与准确性,为晶圆生产质量把控提供可靠技术支撑。
天眼查资料显示,深圳市伟铭光电有限公司,成立于2018年,位于深圳市,是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本2000万人民币。通过天眼查大数据分析,深圳市伟铭光电有限公司参与招投标项目6次,专利信息21条,此外企业还拥有行政许可8个。
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来源:市场资讯