艾为半导体申请芯片量产测试方法专利，可以提高测试程序开发效率
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2026-03-17 02:48:51
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国家知识产权局信息显示，上海艾为半导体技术有限公司申请一项名为“一种芯片量产测试方法、装置、芯片及电子设备”的专利，公开号CN121656799A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本申请涉及芯片领域，具体涉及一种芯片量产测试方法、装置、芯片及电子设备。其中，方法包括：获取配置文件，配置文件包括多个芯片中每个芯片的测试方案数据和每个芯片的信息；基于每个芯片的信息，生成所对应的芯片模型；基于每个芯片的芯片模型生成每个芯片的目标测试模型；获取每个芯片对应的测试程序模板，每个芯片对应的测试程序模板对应于每个芯片对应的测试机的目标型号；更新每个芯片对应的测试程序模版中的参数，获取每个芯片的目标测试程序并导入测试机以测试每个芯片。通过本申请实施例，可以提高测试程序开发效率。
天眼查资料显示，上海艾为半导体技术有限公司，成立于2020年，位于上海市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本94563.2万人民币。通过天眼查大数据分析，上海艾为半导体技术有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目1次，专利信息12条，此外企业还拥有行政许可11个。
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来源：市场资讯
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