深圳格芯申请一种半导体光学检测系统专利，涉及半导体光学检测技术领域
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2025-07-21 18:38:13
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金融界2025年7月21日消息，国家知识产权局信息显示，深圳格芯集成电路装备有限公司申请一项名为“一种半导体光学检测系统”的专利，公开号CN120334243A，申请日期为2025年04月。
专利摘要显示，本发明涉及半导体光学检测技术领域，本发明公开了一种半导体光学检测系统，包括：沿着第一方向依次设置的上料组件、检测组件和下料组件；检测组件包括检测工作台，检测工作台上设置有多个沿着第二方向依次设置的传送组件，传送组件沿着第一方向延伸，多个传送组件的检测工位在第二方向上依次分布；检测器组件包括检测Y轴移动模组和检测器，检测Y轴移动模组沿着第二方向延伸并设置在多个传送组件的上方，检测Y轴移动模组安装在检测工作台上，检测器滑动安装在检测Y轴移动模组上并能够沿着第二方向在多个传送组件的检测工位的上方移动；其中，第一方向和第二方向相互垂直。
天眼查资料显示，深圳格芯集成电路装备有限公司，成立于2020年，位于深圳市，是一家以从事印刷和记录媒介复制业为主的企业。企业注册资本5000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳格芯集成电路装备有限公司参与招投标项目13次，财产线索方面有商标信息8条，专利信息144条，此外企业还拥有行政许可12个。
来源：金融界
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