在新能源、半导体、电力设备等领域,材料表面电荷的动态行为直接影响器件性能与可靠性。
华测仪器研发的表面电位衰减测试系统,能够有效捕捉材料表面电荷的衰减规律,为绝缘材料、功能薄膜、电子器件的研发与质量控制提供关键数据支撑。
表面电位衰减测试系统采用模块化集成设计,集高压极化、温控、信号采集与智能化分析于一体,支持针、栅、板三种电极拓扑结构,可模拟RT至160℃的宽温域。
原理图
1.高压极化模块:
支持±30kV宽范围输出,负载调整率≤0.5%,稳定性≤0.1%/h,确保极化电场有效可控;
2.环境模拟模块:
半导体热电耦合液冷技术帮助实现±0.2℃的控温精度,湿度可调电极箱体,能够复现复杂工况;
3.信号采集系统:
±10kV的电位测量范围,1V精度,5-20ms高速响应,采集频率>1次/秒,能够捕捉瞬态电位变化;
● 绝缘材料研发:评估高压电缆、电容器薄膜的耐压性能与电荷消散特性。
● 功能薄膜分析:研究光伏背板、柔性电子器件的表面电荷行为。
● 半导体器件优化:表征栅极介质层、封装材料的电荷陷阱分布。
● 电力设备状态检测:评估绝缘子、变压器套管等电力设备的老化状态。