胜科纳米获得发明专利授权：“半导体微观结构尺寸测量方法及装置”
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2025-11-05 15:06:16
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证券之星消息，根据天眼查APP数据显示胜科纳米（688757）新获得一项发明专利授权，专利名为“半导体微观结构尺寸测量方法及装置”，专利申请号为CN202511134504.7，授权日为2025年11月4日。
专利摘要：本发明公开了一种半导体微观结构尺寸测量方法、装置、电子设备及存储介质。所述方法包括采用通用半导体微观结构尺寸测量方式对获取的半导体图像进行尺寸测量，获取微观结构尺寸测量结果；其中，通用半导体微观结构尺寸测量方式采用开集图像分割模型对半导体图像进行图像分割，开集图像分割模型支持分割任意半导体微观结构；将微观结构尺寸测量结果作为训练数据集输入至闭集图像分割模型中进行模型训练，以采用专用半导体微观结构尺寸测量方式对待测量半导体微观结构进行尺寸测量；其中，闭集图像分割模型用于分割训练数据集中包括的半导体微观结构。采用本方案，自动完成微观结构尺寸测量，缩短测量时间，减少人工成本，提升分析人员的工作效率。
今年以来胜科纳米新获得专利授权7个。结合公司2025年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了2695.91万元，同比增25.09%。
通过天眼查大数据分析，胜科纳米（苏州）股份有限公司共对外投资了6家企业，参与招投标项目42次；财产线索方面有商标信息66条，专利信息105条，著作权信息10条；此外企业还拥有行政许可25个。
数据来源：天眼查APP
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