国家知识产权局信息显示,力晶积成电子制造股份有限公司申请一项名为“半导体结构及其制造方法”的专利,公开号CN121419355A,申请日期为2024年8月。
专利摘要显示,本发明提供一种半导体结构及其制造方法,其中半导体结构包括基底、光电二极管、层间介电层以及电容器。基底包括第一表面以及与第一表面相对的第二表面。光电二极管设置于基底中。层间介电层设置于基底的第一表面上且覆盖光电二极管,其中层间介电层包括沟槽。电容器设置于层间介电层上,其中一部分的电容器设置于沟槽中,且电容器在基底的法线方向上与光电二极管至少部分地重叠。
声明:市场有风险,投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成,仅供参考,不构成个人投资建议。
来源:市场资讯