金融界2025年7月4日消息,国家知识产权局信息显示,维易科仪器有限公司申请一项名为“钌薄膜的离子束沉积”的专利,公开号CN120265822A,申请日期为2023年09月。
专利摘要显示,形成低电阻率钌(Ru)薄膜的方法,包括:在具有反应气体种类和惰性气体种类的工艺腔室中,通过具有辅助离子束沉积将钌沉积到基板上。基板的温度至少为250℃。所获得的钌薄膜的厚度不超过30nm,电阻率小于12μΩ·cm,结晶结构包括具有(0001)取向的晶粒。不同厚度下电阻率不同,例如50nm以上的膜的电阻率小于9μΩ·cm,35nm以上的膜的电阻率小于9.5μΩ·cm,20nm以上的膜的电阻率小于11μΩ·cm,10nm以上的膜的电阻率小于15μΩ·cm,2nm以上的膜的电阻率小于20μΩ·cm。晶粒的平均晶体尺寸至少是膜厚度的三倍。
来源:金融界