格通智联申请测量芯片延时方法专利，可计算测试信号在单个芯片中的延时
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2025-12-30 21:08:37
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国家知识产权局信息显示，格通智联技术（上海）有限公司申请一项名为“测量芯片延时的方法、电子装置和存储介质”的专利，公开号CN121231990A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本申请提供了一种测量芯片延时的方法、电子装置和存储介质，该测量芯片延时的方法包括将至少两个相同的待测芯片依次通信连接，以形成供信号依次经各完整芯片传输的串行路径，每个待测芯片包括依次通信连接的多个功能模块；向位于串行路径首位的待测芯片输入测试信号，使测试信号沿串行路径依次经各待测芯片传输；监测每个待测芯片内部的信号传输状态，以识别每个待测芯片输出可识别信号的位置，并记录对应的时间点；计算任意两个待测芯片对应同一可识别信号的时间点之间的时间差Δt，根据时间差Δt和测试信号在时间差Δt内经过的待测芯片的数量M，计算测试信号在单个待测芯片中的延时为Δt/(M‑1)。
天眼查资料显示，格通智联技术（上海）有限公司，成立于2025年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，格通智联技术（上海）有限公司共对外投资了2家企业，专利信息2条。
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来源：市场资讯
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