国微电子申请畸变校正技术专利，保证实时畸变校正的准确性
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2026-01-10 11:07:35
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国家知识产权局信息显示，深圳市国微电子有限公司申请一项名为“畸变校正方法、装置、电子设备及存储介质”的专利，公开号CN121304506A，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，本公开实施例公开了一种畸变校正方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，涉及图像处理技术领域，该方法包括：获取相机当前的对焦参数和/或变焦参数；根据所述对焦参数和/或所述变焦参数，确定待选用的畸变校正参数；将所述待选用的畸变校正参数应用于畸变校正装置中，以使得所述畸变校正装置基于所述畸变校正参数对当前帧图像进行畸变校正，其中，当所述畸变校正装置执行所述当前帧图像的畸变校正时，新配置的畸变校正参数用于下一帧图像的畸变校正处理。由此，可以根据动态场景实时获取相机的对焦参数和/或变焦参数，选择合适的畸变校正参数，配置到畸变校正装置中，保证了实时畸变校正的准确性。
天眼查资料显示，深圳市国微电子有限公司，成立于2008年，位于深圳市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本15000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市国微电子有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目663次，专利信息302条，此外企业还拥有行政许可13个。
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来源：市场资讯
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