创元微电子取得支持信号电源独立控制的老化测试设备专利，实现信号与电源的精细化、解耦管理与协同调度
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2026-07-23 05:39:08
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国家知识产权局信息显示，深圳市创元微电子科技有限公司取得一项名为“一种支持信号、电源独立控制的老化测试设备”的专利，授权公告号CN224536102U，申请日期为2025年8月。
专利摘要显示，本实用新型公开一种支持信号、电源独立控制的老化测试设备，包括：主控芯片、电源控制模块、背光控制模块、信号测试模块、存储模块、显示模块、屏幕测试接口；所述信号测试模块包括：分别与所述主控芯片电连接的FPGA、SSD2828/SSD2832桥接芯片，所述FPGA与所述SSD2828/SSD2832桥接芯片电连接，所述SSD2828/SSD2832桥接芯片与所述屏幕测试接口电连接。本实用新型通过为每一块被测屏幕构建完全独立的信号控制通道和电源控制通道，并通过中央控制器实现两者的精细化、解耦管理与协同调度。
天眼查资料显示，深圳市创元微电子科技有限公司，成立于2015年，位于深圳市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本600万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市创元微电子科技有限公司参与招投标项目9次，财产线索方面有商标信息7条，专利信息68条，此外企业还拥有行政许可8个。
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来源：市场资讯
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