国家知识产权局信息显示,重庆芯联微电子有限公司申请一项名为“芯片的失效点定位方法”的专利,公开号CN121385004A,申请日期为2025年9月。
专利摘要显示,本发明提供了一种芯片的失效点定位方法,属于半导体领域。该芯片的失效点定位方法包括提供一厚度在设定范围内的芯片;采用不同能量的脉冲电子束照射所述芯片,获取所述芯片不同结构层的图像;基于所述图像判断所述芯片失效的位置。本发明通过对于不同深度方向的芯片的结构层,对于不同材料的芯片的结构,采用不同能量的脉冲电子束照射芯片,获取芯片不同结构层的图像,根据图像中,失效点的图像与正常的图像的颜色、衬度和形貌不同,来判断芯片失效点的位置,避免高能量的电子束对芯片的结构层造成损伤。同时,也能够避免造成芯片失真。能够提高电子束的穿透性,高穿透性能量的电子束能够穿透芯片的多层结构,定位TSV电迁移、微凸点分层等深层失效。
天眼查资料显示,重庆芯联微电子有限公司,成立于2023年,位于重庆市,是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本870000万人民币。通过天眼查大数据分析,重庆芯联微电子有限公司参与招投标项目935次,专利信息223条,此外企业还拥有行政许可12个。
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来源:市场资讯