国家知识产权局信息显示,上海精测半导体技术有限公司申请一项名为“图像优化方法”的专利,公开号CN122597219A,申请日期为2025年2月。
专利摘要显示,本公开是关于一种图像优化方法。其中,图像优化方法,包括:获取原始图像,并确定所述原始图像的尺寸;对所述原始图像进行降采样,得到降采样图像;对所述降采样图像进行降噪处理,得到降噪图像;基于所述降噪图像进行锐化处理,得到锐化图像;基于所述降采样图像以及所述锐化图像进行融合,得到融合图像;对所述融合图像进行上采样,使得上采样后的融合图像和所述原始图像的尺寸相同;融合所述原始图像和上采样后的融合图像,得到目标图像。通过本公开,既降低了目标图像相对于原始图像的图像细节丢失程度,同时又降低了经过锐化处理后图像的失真程度,从而提升目标图像的图像质量。
天眼查资料显示,上海精测半导体技术有限公司,成立于2018年,位于上海市,是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本207265.2777万人民币。通过天眼查大数据分析,上海精测半导体技术有限公司共对外投资了4家企业,参与招投标项目239次,财产线索方面有商标信息12条,专利信息240条,此外企业还拥有行政许可77个。
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来源:市场资讯