金融界2025年8月16日消息,国家知识产权局信息显示,深圳市美矽微视觉技术有限公司申请一项名为“一种多特征芯片缺陷检测方法”的专利,公开号CN120495307A,申请日期为2025年07月。
专利摘要显示,一种多特征芯片缺陷检测方法,包括:获取包括目标芯片的检测区图像;根据标准芯片图像模板匹配目标芯片的绑定矩形;根据所述绑定矩形,确定目标芯片的位置和边缘,在所述检测区图像上确定多个检测点;连续检测所述检测点,灰度特征提取,对比检测点灰度值与标准芯片图像模板对应点的标准灰度值;颜色特征提取,计算检测点RGB值与标准芯片图像模板对应点的欧氏距离;纹理特征提取,提取检测点邻域的纹理模式,对比标准芯片图像模板纹理差异;计算该检测点的综合差值,若综合差值大于设定的阈值,则判定为偏移点;否则跳过,并重置连续偏移计数。
天眼查资料显示,深圳市美矽微视觉技术有限公司,成立于2021年,位于深圳市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本3000万人民币。通过天眼查大数据分析,深圳市美矽微视觉技术有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目4次,专利信息23条,此外企业还拥有行政许可9个。
来源:金融界