南亚科技取得具有测试结构的半导体装置及其制备方法专利
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2025-12-05 13:07:30
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国家知识产权局信息显示，南亚科技股份有限公司取得一项名为“具有测试结构的半导体装置及其制备方法”的专利，授权公告号CN114429945B，申请日期为2021年9月。

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来源：市场资讯

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