擎星骐骥科技取得多site芯片接触式老化盖插座体专利，能让客户同时测试多种芯片的安全老化接触式测试并实现芯片测试参数的精准性_电池资讯

擎星骐骥科技取得多site芯片接触式老化盖插座体专利，能让客户同时测试多种芯片的安全老化接触式测试并实现芯片测试参数的精准性

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2025-12-06 18:36:37

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国家知识产权局信息显示，苏州擎星骐骥科技有限公司取得一项名为“多site芯片接触式老化盖插座体”的专利，授权公告号CN 223624273 U，申请日期为2024年12月。专利摘要显示，本实用新型属于芯片测试应用技术领域，具体公开了多site芯片接触式老化盖插座体，包括测试探针、主板、第一通槽、第二通槽、小插座体、第二螺丝上固定板、第三螺丝、铝基板插座、上装针板、下装针板、上装针板针槽和下装针板针槽等；其中，小插座体用于插接温度传感器模块，铝基板插座用于插接加热模块。本实用新型的多site芯片接触式老化盖插座体的有益效果在于：1、客户测试多种芯片能够实时控温，对温度过高实时预警，能让客户同时测试多种芯片的安全老化接触式测试，也实现芯片测试参数的精准性；2、整体为分体组合式设计，便于进行装配使用及拆维，便于操作、利于推广。

天眼查资料显示，苏州擎星骐骥科技有限公司，成立于2017年，位于苏州市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本240万人民币。通过天眼查大数据分析，苏州擎星骐骥科技有限公司参与招投标项目6次，专利信息26条，此外企业还拥有行政许可6个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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