利扬芯片申请芯片激光打标防打错方法专利，比对失败后报错
创始人
2026-01-03 16:08:57
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国家知识产权局信息显示，广东利扬芯片测试股份有限公司申请一项名为“芯片激光打标防打错方法、系统、介质及设备”的专利，公开号CN121257579A，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，一种二维码识别比对的芯片激光打标防打错方法、系统、介质及设备，方法中，测试批量芯片并形成其测试日志，所述测试日志包括对应于芯片二维码信息的识别信息；ERP系统基于所述识别信息扫描打印批次流程卡并发送打印档案及测试日志给激光机PC；激光机PC基于用于打印档案建立并编辑打印内容，并将打印内容写入激光打标机中；读取芯片上的二维码信息与激光机PC中的测试日志的识别信息比对，比对失败后报错，比对成功后使得激光打标机对芯片激光刻印打印内容。
天眼查资料显示，广东利扬芯片测试股份有限公司，成立于2010年，位于东莞市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本20307.2655万人民币。通过天眼查大数据分析，广东利扬芯片测试股份有限公司共对外投资了16家企业，参与招投标项目33次，财产线索方面有商标信息14条，专利信息195条，此外企业还拥有行政许可18个。
声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。
来源：市场资讯
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