进芯电子申请内存自测试方法专利，提高故障检测的可靠性_电池资讯

进芯电子申请内存自测试方法专利，提高故障检测的可靠性

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2026-01-26 13:42:49

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国家知识产权局信息显示，湖南进芯电子科技有限公司申请一项名为“内存自测试方法、装置、设备及介质”的专利，公开号CN121387646A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本申请公开了一种内存自测试方法、装置、设备及介质，方法包括获取内存运行数据，将所述内存运行数据输入故障风险预测模型，得到故障风险预测信息；根据所述故障风险预测信息进行区域划分，生成故障风险区域地图；根据故障风险区域地图生成自适应测试策略；根据测试区域选择对应风险等级的测试策略；根据不同风险等级的测试策略分别对不同的所述测试区域的待测试内存进行测试，得到内存测试结果；最后根据内存测试结果生成故障信息。本申请能够兼顾准确率和资源占用率，提高故障检测的可靠性。

天眼查资料显示，湖南进芯电子科技有限公司，成立于2012年，位于长沙市，是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本5314.655173万人民币。通过天眼查大数据分析，湖南进芯电子科技有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目19次，财产线索方面有商标信息19条，专利信息123条，此外企业还拥有行政许可2个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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