芯合电子申请非易失性存储器读打断测试方法及测试装置专利，测试非易失性存储器是否支持读打断操作_电池资讯

芯合电子申请非易失性存储器读打断测试方法及测试装置专利，测试非易失性存储器是否支持读打断操作

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2026-03-25 03:41:33

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国家知识产权局信息显示，芯合电子（上海）有限公司申请一项名为“一种非易失性存储器读打断测试方法及测试装置”的专利，公开号CN121709003A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本申请提供了一种非易失性存储器读打断测试方法及测试装置，所述方法包括：将测试数据烧录至非易失性存储器；对测试数据发起第一次读请求，将第一次读请求的读出数据作为测试期望值；对测试数据发起第二次读请求，每次第二次读请求持续时间等于最小读请求周期；当第二次读请求的持续时间未达到最小读请求周期时，向第二次读请求发起读打断请求，读打断请求的读地址与第二次读请求的读地址不同；经最小读请求周期后，采集读打断请求的读出数据；判断读打断请求的读出数据与测试期望值是否相同，如果相同，则非易失性存储器支持读打断操作；否则，非易失性存储器不支持读打断操作。本申请提供的测试方法用于测试非易失性存储器是否支持读打断。

天眼查资料显示，芯合电子（上海）有限公司，成立于2018年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本1610.5263万人民币。通过天眼查大数据分析，芯合电子（上海）有限公司共对外投资了10家企业，财产线索方面有商标信息1条，专利信息50条，此外企业还拥有行政许可2个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业数据投资易失性电子测试装置存储器支持专利天眼期望值

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