富乐德申请芯片外观缺陷自监督学习检测方法专利，有效提升芯片外观缺陷检测的泛化适配能力
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2026-07-15 06:38:17
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国家知识产权局信息显示，浙江富乐德传感技术有限公司申请一项名为“一种芯片外观缺陷的自监督学习检测方法及系统”的专利，公开号CN122391161A，申请日期为2026年4月。
专利摘要显示，本发明公开了一种芯片外观缺陷的自监督学习检测方法及系统，涉及图像处理技术领域。该方法包括：基于包含已知缺陷的芯片样本图像集合提取缺陷特征，进行聚类分析，获得缺陷特征质心集合；针对每一个缺陷特征质心，分别训练一个对应的缺陷识别子智能体，构成初始缺陷识别子智能体阵列；基于无标签芯片图像构造自监督学习任务，并对初始缺陷识别子智能体阵列进行协同训练，得到协同优化后的缺陷识别子智能体阵列；利用缺陷识别子智能体阵列对待检测芯片图像进行缺陷检测，并根据在线检测过程中收集的图像数据构造在线自监督学习任务，对缺陷识别子智能体阵列进行持续微调与优化。本发明有效提升了芯片外观缺陷检测的泛化适配能力。
天眼查资料显示，浙江富乐德传感技术有限公司，成立于2023年，位于丽水市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本200000万人民币。通过天眼查大数据分析，浙江富乐德传感技术有限公司参与招投标项目2次，专利信息6条，此外企业还拥有行政许可11个。
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来源：市场资讯
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