国家知识产权局信息显示,极芯拓方技术(上海)有限公司申请一项名为“一种测试电路和存储器”的专利,公开号CN122598733A,申请日期为2026年5月。
专利摘要显示,本公开实施例提供了一种测试电路和存储器,该测试电路包括:数据产生电路,用于根据计数时钟信号进行计数,生成数据选择信号,以及根据数据选择信号将多个内部测试数据信号中的一个输出为中间测试数据信号;中间测试数据信号通过目标测试路径传输至路径选择电路;路径选择电路,用于根据路径选择信号,将中间测试数据信号或者常规测试数据信号输出为目标测试信号;常规测试数据信号通过常规测试路径传输至路径选择电路,且高速传输电路设置于常规测试路径上、不设置于目标测试路径上,高速传输电路至少包括并转串电路、信号发送电路和信号接收电路;采样电路,用于根据初始时钟信号对目标测试信号进行采样处理,生成待测信号。
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来源:市场资讯