电池资讯
启鸣芯半导体取得信号处理电路及装置专利
国家知识产权局信息显示，上海启鸣芯半导体技术有限公司取得一项名为“信号处理电路、信号处理装置及通信系统”的专利，授权公告号CN121077431B，申请日期为2...
德携电子取得低损耗磁通门电流传感器测量方法专利
国家知识产权局信息显示，上海德携电子科技有限公司取得一项名为“一种低损耗比例放大的磁通门电流传感器的测量方法”的专利，授权公告号CN121142141B，申请日...
山东华电取得开关柜无人巡检方法及系统专利
国家知识产权局信息显示，山东华电节能技术有限公司取得一项名为“一种开关柜无人巡检方法及系统”的专利，授权公告号CN121164797B，申请日期为2025年11...
沪硅产业：国家集成电路基金拟减持不超过3%
新京报贝壳财经讯 2月6日，沪硅产业公告，国家集成电路产业投资基金股份有限公司持有公司5.12亿股，占15.49%；计划自本公告披露起15个交易日后的3个月内，...
晶合集成取得半导体芯片加强结构专利
国家知识产权局信息显示，合肥晶合集成电路股份有限公司取得一项名为“一种半导体芯片的加强结构及半导体芯片”的专利，授权公告号CN115863389B，申请日期为2...
致茂电子申请具有低感抗的电子负载装置专利，可在电源传输过程中使电感感量降低
国家知识产权局信息显示，致茂电子(苏州)有限公司申请一项名为“具有低感抗的电子负载装置”的专利，公开号CN121463371A，申请日期为2024年7月。 专利...
中汽新能申请动力电池系统电压断线故障预测专利，可提升BMS的采样性
国家知识产权局信息显示，中汽新能电池科技有限公司申请一项名为“一种基于MLP与XGBoost堆叠的动力电池系统电压断线故障预测方法及系统”的专利，公开号CN12...
恒烁半导体取得FLASH储存芯片测试治具专利
国家知识产权局信息显示，恒烁半导体（合肥）股份有限公司取得一项名为“一种FLASH储存芯片测试治具”的专利，授权公告号CN116189751B，申请日期为202...
风华功率电感的饱和电流与温升电流有什么区别？
风华功率电感的饱和电流与温升电流是评估其性能的两个核心参数，二者在定义、物理机制、测试条件及设计应用中存在显著差异，具体区别如下： 1.定义与物理机制 饱和...
欧菲特电子取得具有散热功能的测试设备专利，能及时对芯片进行散热
国家知识产权局信息显示，苏州欧菲特电子股份有限公司取得一项名为“一种具有散热功能的测试设备”的专利，授权公告号CN223883706U，申请日期为2024年12...
功率半导体巨头英飞凌宣布涨价，AI算力需求依然火爆
2月5日，英飞凌官宣涨价，再度验证行业景气，板块迎来情绪修复。隔夜外盘，美股存储芯片巨头，跌幅较此前有所收窄，美光科技（MU.US）逆市收涨，西部数据（WDC....
美的取得均衡控制电路专利提升电池管理效率
国家知识产权局信息显示，广东美的白色家电技术创新中心有限公司、美的集团股份有限公司取得一项名为“一种均衡控制电路、方法、电池及电子设备”的专利，授权公告号CN1...
航宇电子取得绝缘导热胶及超导铝基覆铜板专利
国家知识产权局信息显示，江西省航宇电子材料有限公司取得一项名为“一种绝缘导热胶、超导铝基覆铜板及绝缘导热胶的制备方法”的专利，授权公告号CN120484747B...
长飞先进申请半导体结构及其制备方法专利，提升半导体结构的良率和可靠性
国家知识产权局信息显示，安徽长飞先进半导体股份有限公司申请一项名为“一种半导体结构及其制备方法”的专利，公开号CN121463478A，申请日期为2025年9月...
正大工控取得环保气体封闭型环网开关柜专利，便于对相邻环网开关柜间进行拼接与拆卸
国家知识产权局信息显示，正大工控科技有限公司取得一项名为“一种环保气体封闭型环网开关柜”的专利，授权公告号CN223884839U，申请日期为2025年3月。 ...
常娥光电取得抗冲击电机定子专利，定子铁芯与外框架之间形成缓冲腔
国家知识产权局信息显示，台州市常娥光电有限公司取得一项名为“一种抗冲击电机定子”的专利，授权公告号CN223885048U，申请日期为2025年3月。 专利摘要...
天马微电子取得显示模组及其驱动方法专利
国家知识产权局信息显示，厦门天马微电子有限公司取得一项名为“显示模组及其驱动方法、显示装置”的专利，授权公告号CN118098171B，申请日期为2024年1月...
亚浩电子取得散热装置专利提升传热性能
国家知识产权局信息显示，亚浩电子五金塑胶（惠州）有限公司取得一项名为“一种散热装置”的专利，授权公告号CN115087296B，申请日期为2021年3月。 天眼...
众德兴科技申请发光二极管外延片缺陷检测方法及装置专利，提高了外延片到位精度
国家知识产权局信息显示，深圳市众德兴科技有限公司申请一项名为“一种发光二极管的外延片缺陷检测方法及装置”的专利，公开号CN121446731A，申请日期为202...