燕东微电子取得用于半导体测试的探针台专利使探针针尖达到电性测试温度_电池知识

燕东微电子取得用于半导体测试的探针台专利使探针针尖达到电性测试温度

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2025-07-22 09:39:52

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金融界2025年7月22日消息，国家知识产权局信息显示，北京燕东微电子科技有限公司取得一项名为“探针台以及用于半导体的测试系统”的专利，授权公告号CN223139628U，申请日期为2024年06月。

专利摘要显示，本申请提供一种探针台以及用于半导体的测试系统；探针台包括探针卡以及载片盘，探针卡包括探针，载片盘用于承载待测半导体，探针卡能够对待测半导体进行电性测试。探针台还包括支撑组件以及温度调节组件；温度调节组件具有顺次连通的进气部、换热部以及冷出气部；进气部用于通入外界气体，换热部用于对通过进气部通入的外界气体进行热交换，获得冷气流，冷出气部用于排出冷气流，且冷出气部对准探针的针尖，使探针的针尖达到待测半导体的电性测试温度。本申请提供的探针台，利用温度调节组件，使得在利用探针卡对待测半导体进行测试时通过向探针的针尖处提供具有预设温度的冷却气体，能够达到电性测试温度，满足FRD等半导体产品的测试要求。

天眼查资料显示，北京燕东微电子科技有限公司，成立于2016年，位于北京市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本1200000万人民币。通过天眼查大数据分析，北京燕东微电子科技有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目1031次，专利信息154条，此外企业还拥有行政许可113个。

来源：金融界

企业显示温度测试探针导体微电子针尖专利北京探针台半导体气部电性

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