苏州安田丰科技申请半导体测试探针外观检验设备专利，实现探针外观检验的全流程自动化
创始人
2026-01-12 10:12:32
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国家知识产权局信息显示，苏州安田丰科技有限公司申请一项名为“一种半导体测试探针外观检验设备”的专利，公开号CN121289130A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本发明涉及工业视觉检测技术领域，涉及一种半导体测试探针外观检验设备，包括环形转盘、上料模块、除静电模块、检测模块和下料模块。设备通过柔性振动盘和四轴机器人实现自动上料，利用自适应V形槽机构适配不同规格探针，采用离子风机和静电消除喷嘴进行全程除静电处理。检测工位通过转动柱驱动探针自转，配合表面检测相机完成全景图像采集，双角度监测系统确保检测完整性并实现传动健康诊断。最终根据检测结果通过气吹分拣装置将探针自动分类收集。本发明实现了探针外观检验的全流程自动化，具备高精度、适用性强和高可靠性的特点。
天眼查资料显示，苏州安田丰科技有限公司，成立于2021年，位于苏州市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本1500万人民币。通过天眼查大数据分析，苏州安田丰科技有限公司财产线索方面有商标信息3条，专利信息23条，此外企业还拥有行政许可10个。
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