长鑫闵科申请一种存储器和测试系统专利，提高测试效率
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2025-08-06 14:12:01
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金融界2025年8月6日消息，国家知识产权局信息显示，长鑫闵科存储技术（上海）有限公司申请一项名为“一种存储器和测试系统”的专利，公开号CN120431986A，申请日期为2025年04月。
专利摘要显示，本公开实施例提供了一种存储器和测试系统，存储器包括第一组存储体、第二组存储体和若干个读写控制电路，第一组存储体中的一存储体和第二组存储体中的一存储体共享同一读写控制电路；存储器，配置为从外部接收命令地址信号和数据信号；在目标模式中，若命令地址信号指示写操作，则依次执行第一内部写操作和第二内部写操作；目标模式指示所有存储体共同执行写操作，第一内部写操作是指通过每一读写控制电路向第一组存储体写入目标数据，第二内部写操作是指通过每一读写控制电路向第二组存储体写入目标数据，目标数据包括数据信号，在测试过程中确保实际写入数据与预期写入数据相符，提高测试效率。
天眼查资料显示，长鑫闵科存储技术（上海）有限公司，成立于2023年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，长鑫闵科存储技术（上海）有限公司专利信息13条，此外企业还拥有行政许可3个。
来源：金融界
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