国微电子取得芯片测试电路及测试装置专利，提高了芯片的测试效率_电池资讯

国微电子取得芯片测试电路及测试装置专利，提高了芯片的测试效率

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2026-02-17 19:41:05

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国家知识产权局信息显示，深圳市国微电子有限公司取得一项名为“一种芯片测试电路及测试装置”的专利，授权公告号CN223926562U，申请日期为2024年12月。

专利摘要显示，本申请属于芯片测试技术领域，提供了一种芯片测试电路及测试装置，在基板正面设置控制模块和多个同轴开关，通过将同轴开关的插座由基板上的开关通孔露出于基板的背面，并将多个所述同轴开关按照串联或者并联电连接组成差分开关切换电路，差分开关切换电路输出的差分信号转换为单端信号输出，由控制模块控制多个同轴开关的开关状态，从而形成不同的测试链路，分别接通待测芯片中的差分信号引脚，实现对待测芯片的多通道覆盖测试，并且不会影响信号质量，提高了芯片的测试效率。

天眼查资料显示，深圳市国微电子有限公司，成立于2008年，位于深圳市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本15000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市国微电子有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目665次，专利信息315条，此外企业还拥有行政许可13个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

差分投资电路提高了测试深圳市芯片装置微电子专利同轴开关

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