武汉夏宇取得电子元件外观缺陷检测装置专利，提高了电子元件外观检测的效率
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2026-02-17 20:09:52
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国家知识产权局信息显示，武汉夏宇信息技术有限公司取得一项名为“一种电子元件外观缺陷检测装置”的专利，授权公告号CN223926402U，申请日期为2025年3月。
专利摘要显示，本实用新型公开了一种电子元件外观缺陷检测装置，包括安装架和传送带，所述传送带设置在安装架的内部，所述安装架的上表面固定安装有两个固定架，所述传送带的正上方设置有活动架，所述活动架两端的外壁均固定安装有带动块，一个所述固定架的上表面固定安装有伺服电机，所述伺服电机的输出端固定安装有螺纹转杆。本实用新型，通过设置安装架、传送带、固定架、活动架、驱动电机、带动杆、转动架和检测器等部件的配合，实现了对检测器的位置和高度进行调节的功能，使得不必工作人员调节电子元件就可以对电子元件的多个面进行检测，提高了电子元件外观检测的效率，提升了外观缺陷检测装置的实用性。
天眼查资料显示，武汉夏宇信息技术有限公司，成立于2013年，位于武汉市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本200万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉夏宇信息技术有限公司参与招投标项目37次，专利信息3条，此外企业还拥有行政许可5个。
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来源：市场资讯
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