国家知识产权局信息显示,德州仪器公司申请一项名为“用于对EPROM位单元的源极-漏极电压准确地进行箝位的电路和方法”的专利,公开号CN121747664A,申请日期为2025年9月。
专利摘要显示,本公开涉及用于对EPROM位单元的源极‑漏极电压准确地进行箝位的电路和方法。一种半导体装置(100)包含耦合到位线(BL1)的单元晶体管(CT1)、耦合到所述位线(BL1)和偏置节点(BIASP)的偏置晶体管(MP1),以及耦合于所述位线(BL1)与箝位节点(CLMP)之间的箝位晶体管(MC1)。存储器电路包含:耦合到相应位线(BL1‑BLn)的存储器单元晶体管(CT1‑CTn)的阵列;偏置晶体管(MP1),其具有源极、漏极和栅极,每一偏置晶体管(MP1)的所述源极耦合到所述位线(BL1‑BLn)中的相应一个;偏置节点(108),其耦合到所述偏置晶体管(MP1)的所述栅极;电流源(CS1),其具有第一端子和第二端子,所述第一端子耦合到所述偏置节点(108),且所述第二端子耦合到参考节点(GND);以及箝位晶体管(MC1)。
声明:市场有风险,投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成,仅供参考,不构成个人投资建议。
来源:市场资讯